本報(bào)告旨在闡明白光LED產(chǎn)品的可靠性測(cè)試項(xiàng)目及壽命測(cè)試、環(huán)境測(cè)試的測(cè)試方法、參考標(biāo)準(zhǔn)及測(cè)試結(jié)果，為客戶在應(yīng)用白光LED產(chǎn)品時(shí)提供參考。

    ◆可靠性測(cè)試項(xiàng)目

    下表列出了白光LED產(chǎn)品可靠性測(cè)試項(xiàng)目、測(cè)試條件及失效判定標(biāo)準(zhǔn): 

    ◆壽命測(cè)試

    LED是電流驅(qū)動(dòng)元件，隨著LED受電流作用時(shí)間的增加及環(huán)境的長(zhǎng)期影響，LED發(fā)出的光通量會(huì)逐漸衰減，而且衰減的幅度而和速率受驅(qū)動(dòng)電流的大小和環(huán)境條件的影響。目前行業(yè)內(nèi)普遍將LED光通量衰減為其初始值的70%所經(jīng)歷的使用時(shí)間L70，或LED光通量衰減為其初始值的50%所經(jīng)歷的使用時(shí)間L50，定義為L(zhǎng)ED的使用壽命。

    參考JEDEC標(biāo)準(zhǔn)文件JESD22-A108C JESD22-A101 B中提供的恒溫老化測(cè)試和恒溫恒濕老化測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)，白光LED產(chǎn)品進(jìn)行常溫老化測(cè)試、高溫老化測(cè)試和高溫高濕老化測(cè)試，下圖給出了相關(guān)的測(cè)試結(jié)果。

    ◆環(huán)境測(cè)試

    白光LED中包含了陶瓷基板、芯片、熒光粉、硅膠等多種不同材料并形成多個(gè)界面，在LED的使用過程中，當(dāng)外界環(huán)境條件(尤其是溫度和濕度條件)發(fā)生變化時(shí)，不同封裝材料之間的熱膨脹系數(shù)的差異容易造成LED失效。當(dāng)外界環(huán)境條件比較嚴(yán)苛?xí)r，例如高溫、低溫或者高濕條件，易導(dǎo)致封裝材料性能下降，從而造成LED失效。

    為了保證白光LED產(chǎn)品具有良好的環(huán)境穩(wěn)定性，參考JEDEC標(biāo)準(zhǔn)文件JESD22-A106B和JESD22-A104B，對(duì)白光LED產(chǎn)品進(jìn)行了嚴(yán)苛的環(huán)境測(cè)試——冷熱沖擊測(cè)試和高低溫循環(huán)測(cè)試。下圖表明了冷熱沖擊測(cè)試和高低溫測(cè)試一個(gè)回合的測(cè)試條件，共測(cè)試200回合。

    經(jīng)過200回合的冷熱沖擊和高低溫循環(huán)測(cè)試，白光LED產(chǎn)品未出現(xiàn)死燈及外觀不良等失效現(xiàn)象，呈現(xiàn)出了良好的環(huán)境穩(wěn)定性和可靠性。